1、什么是無損探傷/無損檢測？

　　(1)無損探傷(shang)是在不損壞(huai)工(gong)(gong)件(jian)或原(yuan)材料工(gong)(gong)作狀(zhuang)態的(de)前提下(xia)，對被檢驗部件(jian)的(de)表面(mian)和內部質(zhi)量進(jin)行檢查的(de)一種測試手段。

　　(2)無損檢測：NondestructiveTesting（縮寫 NDT）

2、常用的探傷方法(fa)有哪些(xie)？

　　無損檢測方法很多據美國國家(jia)宇航局調(diao)研分析(xi)，認為(wei)可分為(wei)六(liu)大類約70余(yu)種。但在實際應用中比(bi)較常見的(de)有以下幾(ji)種：

　　常規無損檢測方法有：

　　－超聲檢測 Ultrasonic Testing（縮寫 UT）；

　　－射線檢測 Radiographic Testing（縮寫 RT）；

　　－磁粉檢測 Magnetic particle Testing（縮寫 MT）；

　　－滲透檢驗 Penetrant Testing （縮寫 PT）；

　　－渦流檢測Eddy current Testing（縮寫 ET）；

　　非常規無損檢測技術有：

　　－聲發射Acoustic Emission(縮寫 AE)；

　　－泄漏檢測Leak Testing（縮寫 UT）；

　　－光全息照相Optical Holography；

　　－紅外熱成象Infrared Thermography；

　　－微波檢測 Microwave Testing

3、超聲波探傷(shang)的基本原理是什么(me)？

　　超(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)探(tan)傷(shang)(shang)儀(yi)(yi)的(de)(de)(de)種(zhong)類繁多，但在實際的(de)(de)(de)探(tan)傷(shang)(shang)過程(cheng)，脈(mo)沖反(fan)射式超(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)探(tan)傷(shang)(shang)儀(yi)(yi)應用(yong)的(de)(de)(de)最(zui)為廣(guang)泛。一(yi)般在均勻的(de)(de)(de)材料中，缺陷的(de)(de)(de)存在將造成材料的(de)(de)(de)不(bu)(bu)連續(xu)，這種(zhong)不(bu)(bu)連續(xu)往(wang)往(wang)又造成聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)阻抗的(de)(de)(de)不(bu)(bu)一(yi)致，由反(fan)射定(ding)理(li)我(wo)們(men)知道(dao)，超(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)在兩(liang)種(zhong)不(bu)(bu)同(tong)聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)阻抗的(de)(de)(de)介質的(de)(de)(de)交界面(mian)上將會發(fa)生反(fan)射，反(fan)射回來的(de)(de)(de)能量的(de)(de)(de)大小與交界面(mian)兩(liang)邊介質聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)阻抗的(de)(de)(de)差異和交界面(mian)的(de)(de)(de)取向、大小有(you)關(guan)。脈(mo)沖反(fan)射式超(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)探(tan)傷(shang)(shang)儀(yi)(yi)就(jiu)是根據這個原理(li)設計(ji)的(de)(de)(de)。

　　目(mu)前便攜式的(de)(de)(de)脈沖反射(she)(she)式超(chao)聲(sheng)波(bo)(bo)探傷儀大部分是(shi)A掃(sao)描(miao)方式的(de)(de)(de)，所謂A掃(sao)描(miao)顯(xian)示方式即(ji)顯(xian)示器的(de)(de)(de)橫(heng)坐標(biao)是(shi)超(chao)聲(sheng)波(bo)(bo)在(zai)(zai)(zai)被檢測材(cai)料(liao)中(zhong)的(de)(de)(de)傳播時間或者(zhe)傳播距(ju)離，縱坐標(biao)是(shi)超(chao)聲(sheng)波(bo)(bo)反射(she)(she)波(bo)(bo)的(de)(de)(de)幅值。譬如(ru)，在(zai)(zai)(zai)一個(ge)鋼(gang)工件(jian)中(zhong)存(cun)在(zai)(zai)(zai)一個(ge)缺(que)陷(xian)，由于這(zhe)(zhe)個(ge)缺(que)陷(xian)的(de)(de)(de)存(cun)在(zai)(zai)(zai)，造成了(le)缺(que)陷(xian)和(he)鋼(gang)材(cai)料(liao)之(zhi)間形成了(le)一個(ge)不(bu)同(tong)介(jie)質(zhi)之(zhi)間的(de)(de)(de)交界面，交界面之(zhi)間的(de)(de)(de)聲(sheng)阻抗不(bu)同(tong)，當發射(she)(she)的(de)(de)(de)超(chao)聲(sheng)波(bo)(bo)遇到這(zhe)(zhe)個(ge)界面之(zhi)后，就會發生反射(she)(she)(見圖1)，反射(she)(she)回(hui)來(lai)的(de)(de)(de)能量又被探頭接受(shou)到，在(zai)(zai)(zai)顯(xian)示屏幕中(zhong)橫(heng)坐標(biao)的(de)(de)(de)一定的(de)(de)(de)位(wei)置就會顯(xian)示出來(lai)一個(ge)反射(she)(she)波(bo)(bo)的(de)(de)(de)波(bo)(bo)形，橫(heng)坐標(biao)的(de)(de)(de)這(zhe)(zhe)個(ge)位(wei)置就是(shi)缺(que)陷(xian)在(zai)(zai)(zai)被檢測材(cai)料(liao)中(zhong)的(de)(de)(de)深度。這(zhe)(zhe)個(ge)反射(she)(she)波(bo)(bo)的(de)(de)(de)高度和(he)形狀因不(bu)同(tong)的(de)(de)(de)缺(que)陷(xian)而(er)不(bu)同(tong)，反映了(le)缺(que)陷(xian)的(de)(de)(de)性質(zhi)。

4、超聲波探(tan)傷與X射線探(tan)傷相比較有何優的(de)缺點？

　　超聲波探(tan)傷比X射(she)線探(tan)傷具(ju)有較高的探(tan)傷靈敏(min)度、周期(qi)短(duan)、成(cheng)本低、靈活方(fang)便、效率高，對(dui)人體無害等(deng)優點；缺(que)(que)點是對(dui)工(gong)作(zuo)表面要(yao)求(qiu)平滑、要(yao)求(qiu)富有經驗的檢(jian)驗人員(yuan)才能辨(bian)別缺(que)(que)陷種類、對(dui)缺(que)(que)陷沒有直觀性；超聲波探(tan)傷適合于厚度較大(da)的零件檢(jian)驗。

5、超(chao)聲波探傷的(de)主(zhu)要特性有哪些？

　　（1）超聲波在(zai)(zai)介(jie)質中傳播時(shi)，在(zai)(zai)不(bu)同質界面(mian)上具有反(fan)(fan)射(she)(she)的(de)(de)特性，如遇到缺(que)陷(xian)，缺(que)陷(xian)的(de)(de)尺寸等于或大于超聲波波長時(shi)，則超聲波在(zai)(zai)缺(que)陷(xian)上反(fan)(fan)射(she)(she)回來，探傷儀可(ke)將反(fan)(fan)射(she)(she)波顯示出來；如缺(que)陷(xian)的(de)(de)尺寸甚至小于波長時(shi)，聲波將繞過(guo)射(she)(she)線而不(bu)能反(fan)(fan)射(she)(she)；

　　（2）波(bo)(bo)聲的方向(xiang)性(xing)好(hao)，頻率越(yue)高，方向(xiang)性(xing)越(yue)好(hao)，以很(hen)窄的波(bo)(bo)束向(xiang)介質中輻射，易于確定缺陷的位置。

　　（3）超聲波的傳播能量大，如頻率為1MHZ（100赫茲）的超生波所傳播的能量，相當于振幅相同而頻率為1000HZ（赫茲）的聲波的100萬倍。

6、超生波探(tan)傷板厚14毫(hao)米時，距離波幅曲(qu)線上(shang)三條主要(yao)曲(qu)線的關系怎(zen)樣？

　　測(ce)長線(xian) Ф1 х 6 －12dB

　　定量線 Ф1 х 6 －6dB　

　　判(pan)度線 Ф1 х 6 －2dB

7、用超生波探(tan)傷時，底波消失(shi)可能是什(shen)么原因造成(cheng)的？

　　（1）近表表大(da)缺(que)陷(xian)；（2）吸(xi)收(shou)性缺(que)陷(xian)；（3）傾斜大(da)缺(que)陷(xian)；（4）氧化皮與(yu)鋼板結合不好。

8、簡(jian)述超生波探傷中(zhong)(zhong)，超生波在介質中(zhong)(zhong)傳播時引起衰減的原因是什(shen)么？

　　（1）超聲波(bo)的擴散(san)傳(chuan)播(bo)距離增加，波(bo)束截面愈(yu)來愈(yu)大，單位面積(ji)上(shang)的能量減少。

　　（2）材質衰(shuai)減一是介質粘(zhan)滯性引(yin)起(qi)的吸收；二是介質界面雜亂反射引(yin)起(qi)的散射。

9、試塊(kuai)的主要作用是什么？

　　（1）校驗靈敏度；（2）校準掃描線性。

10、用超生波對餅(bing)形大(da)鍛件探(tan)傷，如果(guo)用底波調節探(tan)傷起始靈敏度對工(gong)作(zuo)底面有何要求？

　　（1）底面必須平行于探(tan)傷面；

　　（2）底面必須(xu)平整并(bing)且有一定的(de)光潔度。

11．超聲波探(tan)傷選擇探(tan)頭(tou)K值有哪三條原(yuan)則？

　　（1）聲束掃查到整個焊縫截面(mian)；

　　（2）聲束盡量垂(chui)直于主要缺陷；

　　（3）有足夠的靈(ling)敏(min)度。

12、超(chao)聲波探傷儀主要有哪幾部分組成？

　　主(zhu)要有電(dian)路(lu)同步電(dian)路(lu)、發(fa)電(dian)路(lu)、接收電(dian)路(lu)、水平掃描電(dian)路(lu)、顯示器(qi)和電(dian)源等部份(fen)組(zu)成。

13、發射電路(lu)的主要作用是什(shen)么？

　　由同步電路輸入(ru)的同步脈沖信(xin)號，觸(chu)發發射電路工作，產生(sheng)(sheng)高頻電脈沖信(xin)號激勵晶片，產生(sheng)(sheng)高頻振動(dong)，并在介(jie)質內產生(sheng)(sheng)超聲(sheng)波。

14、超聲波(bo)探傷中，晶片表(biao)面和被探工件表(biao)面之間(jian)使用耦合劑的(de)原因是什(shen)么？

　　晶片表面(mian)和(he)被檢工件表面(mian)之間(jian)的空氣間(jian)隙，會(hui)使超聲波完全反射，造成探傷結果(guo)不準確(que)和(he)無法探傷。

15．JB1150－73標準中規定的判(pan)別缺陷(xian)的三種(zhong)情況(kuang)是什么(me)？

　　（1）無底波只(zhi)有缺陷的多次反射(she)波。

　　（2）無底波(bo)只(zhi)有多個紊亂的缺陷(xian)波(bo)。

　　（3）缺陷波和底波同時存在。

16．JB1150－73標準中規定的距離――波幅曲線的用途是什(shen)么？

　　距離(li)――波幅曲(qu)線(xian)主要(yao)用于判(pan)定缺陷(xian)大小，給驗收標準提供依據它是由判(pan)廢(fei)線(xian)、定量線(xian)、測長線(xian)三條(tiao)曲(qu)線(xian)組成；

　　判廢線――判定缺陷的最大允許當量；

　　定量線――判定缺陷的大小、長度的控制線；

　　測長線――探傷起始靈敏度控制線。

17．什么是超聲場？

　　充滿超聲(sheng)場能量的空間叫超聲(sheng)場。

18．反映超聲(sheng)場(chang)特(te)征(zheng)的主要參數是什么？

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